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탐침은 어떻게 작동하나요?
프로브는 단일 가닥의 DNA 또는 RNA로 구성된 작은 조각(약 20~500bp)으로, 상보적인 핵산 서열을 검출하는 데 사용된다. 이중가닥 DNA를 가열하여 단일 가닥으로 만든 후, 이를 방사성 동위원소(주로 인-32), 형광 염료 또는 효소(예: 과산화효소)로 표지한다. 인-32는 일반적으로 DNA를 구성하는 네 가지 뉴클레오티드 중 하나인 인산기로 결합되며, 형광 염료와 효소는 공유결합으로 핵산 서열에 부착된다.
이제 테스트 지그에서 테스트 프로브는 매개체로 사용되며, 프로브는 케이스 내에 배치되고 프로브 헤드가 피시험 대상과 접촉합니다. 또한 케이스의 반대쪽 끝에 연결된 출력선을 통해 신호가 외부로 전달되며, 수신된 신호는 테스트 장비에서 처리됩니다. 예를 들어, 저항의 경우 전류원을 이용하여 프로브 양단의 전압강하를 측정하고, 커패시터의 경우 전압원을 활용해 충전 시간의 기울기를 계산합니다. 프로브는 지그 제작 시 지속적인 사용성과 낮은 제작 비용으로 인해 테스트 분야에서 널리 활용되고 있습니다.
테스트 프로브 헤드의 종류는 주로 테스트 포인트마다 요구되는 헤드 유형이 다르기 때문에 다양하게 구분됩니다. 예를 들어, 다이프 풋은 다중 클로우형 헤드를 사용하고, 테스트 패드 포인트에는 뾰족형, 원형 또는 평평한 헤드를 사용하며, IC 풋에는 플럼형 헤드를 적용합니다. 이 모든 선택은 PCB의 최종 조립 부품에 따라 경험이 풍부한 생산 인력의 판단에 의존합니다.
나니제이션은 프로브에 대한 물리적 강화일 뿐이며, 테스트 지그에는 영향을 미치지 않습니다. 만약 관심이 있으시다면, 테스트 지그에 미치는 영향은 AOI 검사와 같은 테스트 장비의 일부로 포함되어야 합니다.
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